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    Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

    Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

    • 產(chǎn)品型號(hào):OMNI
    • 更新時(shí)間:2024-10-21
    • 產(chǎn)品介紹:Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°,173°、90三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測(cè)量。
    • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    • 在線留言 029-89188319 15399059159

    產(chǎn)品介紹

    作為將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了長(zhǎng)期以來無法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。


    NanoBrook產(chǎn)品系列

    項(xiàng)目

    90Plus

    173

    173Plus

    ZetaPlus

    ZetaPALS

    Omni

    粒度測(cè)量

    分子量測(cè)量

    Zeta電位測(cè)量

    技  術(shù)  參  數(shù)

    粒度范圍

    0.3nm-10μm

    0.3nm-10μm

    0.3nm-10μm

    0.3nm-10μm

    分子量范圍

    342~2×107Dalton

    342~2×107Dalton

    342~2×107Dalton

    342~2×107Dalton

    散射角

    15°、90°

    173°

    15°、90°、173°

    15°、90°、173°

    相關(guān)器

    4×1011個(gè)線性通道

    4×1011個(gè)線性通道

    4×1011個(gè)線性通道

    4×1011個(gè)線性通道

    電導(dǎo)率范圍

    0-20S/m

    0-30S/m

    電泳遷移率

    范圍

    10-10-10-7m2/V.s

    10-11-10-7m2/V.s

    適用粒度范圍

    1nm~100μm

    *型電

    系 統(tǒng) 參 數(shù)

    溫度控制

    -5~110℃,±0.1℃

    激光源

    40mW光泵半導(dǎo)體激光器

    檢測(cè)器

    高靈敏雪崩型二管(APD),超高量子效應(yīng)(>65%)

    分析軟件

    Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

    微流變

    檢測(cè)弱結(jié)構(gòu)溶液的粘彈性信息

    膜電位

    固體表面膜電位測(cè)量

    在線測(cè)量

    粒度及Zeta電位在線測(cè)量

    自動(dòng)滴定儀

    可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

    介電常數(shù)儀

    直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值

    粘度計(jì)

    用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度

    ●代表“有"  ○代表“無"


    Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀典型應(yīng)用  

    1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

    2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

    3.多糖、藥物制備

    4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

    5.油包水、水包油體系

    6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

    7.食品、化妝品配方

    8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑


    Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀應(yīng)用案例


    不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響       不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響        Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

           通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)


    技術(shù)參數(shù)

    1.粒度測(cè)量范圍:0.3nm~10μm

    2.Zeta電位測(cè)量適用粒度范圍:1nm~100μm

    3.樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))

    4.典型精度:1%

    5.樣品類型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

    6.樣品體積:1~3ml

    7.分子量測(cè)定范圍:342~2×107Dalton

    8.電導(dǎo)率范圍:0~30S/m

    9.電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s

    10.電場(chǎng)強(qiáng)度:0 ~ 60 kV/m

    11.電:*性開放式電,電材料純鈀;耐腐蝕電(選件);微量電(選件)

    12.溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

    13.pH測(cè)量范圍:1-14

    14.激光源:40mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)

    15.檢測(cè)器:高靈敏雪崩型二管(APD)

    16.相關(guān)器:4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道,采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配

    17.自動(dòng)趨勢(shì)分析:對(duì)時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

    18.散射角:15°、90°與173°

    19.室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無冷凝

    20.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

    21.電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

    22.計(jì)算機(jī)(選件):商用計(jì)算機(jī),包括WindowTM軟件

    23.自動(dòng)滴定儀(選件):獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng),可對(duì)pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖


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